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    X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

    X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

    更新日期:2024-05-14

    訪問量:859

    廠商性質:經銷商

    生產地址:

    簡要描述:
    X射線熒光測量儀 XDV &#174; -μ
    FISCHERSCOPE &#174; X 射線 XDV &#174; -μ
    這是配備多毛細管光學元件的熒光 X 射線薄膜厚度測量儀。由于 X 射線聚焦在微小部件上,因此 X 射線強度強,可以進行精確測量。

    X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

    X射線熒光測量儀 XDV ® -μ

    日本進口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -μ

    特征

    • X 射線聚焦在微小部件上,X 射線強度強,可實現精確測量。
    • 薄膜厚度測量(示例) 0.1 µm 以下的 Au 和 Pd
    • 使用可編程 XY 平臺進行自動測量

    主要規格

    它是一種使用多毛細管透鏡的熒光 X 射線測量設備。對于非常小的零件和結構零件,可以進行無損膜厚測量和材料分析。

    模型XDV-μ
    測量元件范圍鋁 (13) -U (92)
    X射線探測器硅漂移探測器 (SDD)
    X射線管微調焦管
    初級過濾器4種
    X 射線光學元件 / 尺寸多毛細管透鏡 Φ20µm(選項 Φ10µm)
    車身尺寸660 x 835 x 720mm(寬 x 深 x 高)
    能量消耗高達 120W

    主要應用

    • 測量非常小的扁平部件和結構部件,例如印刷電路板、接觸針、引線框架等。
    • 電子元件和半導體產品中使用的功能鍍層的測量

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