X射線熒光測量儀 XDV ® -μ
X射線熒光測量儀 XDV ® -μ
日本進口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -μ
特征
- X 射線聚焦在微小部件上，X 射線強度強，可實現精確測量。
- 薄膜厚度測量（示例） 0.1 µm 以下的 Au 和 Pd
- 使用可編程 XY 平臺進行自動測量
主要規格
它是一種使用多毛細管透鏡的熒光 X 射線測量設備。對于非常小的零件和結構零件，可以進行無損膜厚測量和材料分析。
| 模型 | XDV-μ |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調焦管 |
| 初級過濾器 | 4種 |
| X 射線光學元件 / 尺寸 | 多毛細管透鏡 Φ20µm（選項 Φ10µm） |
| 車身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達 120W |
主要應用
- 測量非常小的扁平部件和結構部件，例如印刷電路板、接觸針、引線框架等。
- 電子元件和半導體產品中使用的功能鍍層的測量
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