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日本densoku渦流膜厚計D-20 測厚儀
更新日期：2024-05-11
訪問量：912
廠商性質：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
日本densoku渦流膜厚計D-20緊湊，便攜式的膜厚計，可通過短時間的測量滿足時代的需求
日本densoku渦流膜厚計D-20
日本densoku渦流膜厚計D-20
重量2.0kg輕巧緊湊
，同時開始測量開關，測量時間甚至在一秒鐘之內即可
實現(xiàn)晶體振蕩方法，高穩(wěn)定性（±1％）精度高，
因為無損總檢測可以
稱得上是因為，直接讀取不需要
渦流膜厚儀D-20的特點
輕巧緊湊
您可以隨身攜帶。
可以立即進行測量
開關一打開就可以進行測量。測量時間也在1秒以內。
高穩(wěn)定性（±1％）高精度
由于采用了晶體振蕩方法，因此具有很高的穩(wěn)定性（±1％）和高精度。
可以檢查
由于它是非破壞性的，因此可以進行的檢查。
無需轉換
它是直接讀取類型，不需要轉換。
支持各種測量
可以測量金屬上的薄膜，鍍層，油漆，樹脂等（例如：鋁上的氧化膜，鐵上鋅的鍍層，油漆等）。
成為測量儀器
只需更換刻度盤，它便成為各種的測量儀器。
測量面積3m㎡以上
兼容3m㎡以上的測量面積。
還可以測量非金屬上的金屬涂層
它可以測量非金屬上的金屬涂層（例如，塑料上的鍍層）。
可以在彎曲表面，球形表面和內部管道上進行測量
也可以在彎曲表面和球形表面上進行測量。另外，可以測量管等的內表面（φ12.7mm以上）。
測量原理
 | 當載有高頻電流的探頭（測量線圈）靠近金屬時，在金屬表面會產(chǎn)生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的電導率，厚度，形狀等的影響，并且穿透深度及其大小不同。 然后，渦流流動以抵消探針的高頻磁場，從而探針的高頻電阻值改變。高頻電阻值的變化被放大并顯示在儀表上。這樣，可以從儀表的跳動中讀取膜厚值。由于膜厚值和儀表的跳動通常不成比例，因此可以使用直讀刻度盤直接讀取膜厚值。 |
渦流膜厚計D-20的規(guī)格
| 電源 | 8節(jié)AA電池，使用AC適配器時為AC100V |
| 重量 | 2.0公斤 |
| 尺寸 | 250（W）x 89（D）x 186（H）毫米 |
| 振蕩頻率 | A 107.8kHz B 431kHz C 1725kHz D 6.9MHz |
（注）規(guī)格如有變更，恕不另行通知。
渦流膜厚計D-20的探頭規(guī)格
| 1. 探頭有效范圍使用超細探頭時 | φ5mm的 φ3mm的 |
| 2.探頭線長 | 900毫米 |
| 3.根據(jù)導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量 | |
| 4.探頭類型 | MP類型...平坦凹凸曲面（標準） SM類型...平坦凹凸曲面（微細的） RP類型...凹面，管內面 SR型...用于小直徑管道內表面 由所述膜測得的探頭A，B的厚度，有C和D四種類型。 |
| 5.探針指南 | ＃180：平面測量 ＃120：φ25-60mm凸曲面測量 |
