Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀
Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀
日本進口fischer-Facescope PMP10 渦流相位薄膜測厚儀
特征
- 適用于粗糙表面、小零件、通孔鍍銅等的膜厚測量。
- 也適用于測量鐵上鎳層的膜厚
- 您可以直接測量抗蝕劑膜下印刷電路板上的銅膜厚度。
主要規格
| 測量方法 | 渦流相位方程 |
|---|---|
| 測量范圍 | 各種連接探針的 銅膜厚度（PCB等通孔內）：5 -80 µm PCB等銅膜厚度 ：1 --270 µm 地面Fe Cu膜：1 --200 µm Fe Zn 地面膜: 2-200 µm 地面Fe Ni膜：1-50µm (240kHz), 2-100µm (60kHz) 地面Fe Zn或Cu膜：1-150µm |
| 測量記錄 | 20,000例 |
| 車身尺寸 | 230 毫米 x 95 毫米 x 52 毫米（長 x 寬 x 高） |
| 液晶顯示器 | 62 毫米 x 43 毫米（寬 x 高） |
| 重量 | 約 600g（主機和電池） |
| 電源供應 | 4.8V 電池，交流適配器（100-240V） |
主要應用
- 印制電路板銅膜厚度
- 印刷電路板上通孔銅厚
- 螺絲頭等鐵上鋅的厚度
